| 专利名称 | 一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法 | 申请号 | CN201710607835.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107389661A | 公开（授权）日 | 2017.11.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明（设计）人 | 崔荣荣;刘艳成;周伟;张岚;胡伟青;丛海霞;罗艳 | 主分类号 | G01N21/71(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/71(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I | 专利有效期 | 一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法 至一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法，包括：将含铀化合物的溶液中的铀负载到α圆片上得到待分析样品片；将六氟化铀标准物质的溶液中的铀负载到α圆片上得到标准样品片；优化LA和ICP?MS得到仪器的优化参数；使用仪器的优化参数对标准样品片进行测定，得到各个核素的未校正的丰度值，使用所述未校正的丰度值除以标准物质的证书值得到每个核素丰度的校正因子；使用仪器的优化参数，采用线扫描方式剥蚀待分析样品片进行测定，测定的各个核素的计数比丰度值除以每个核素丰度的校正因子校正质量歧视效应，得到各个核素的校正的丰度值。根据本发明的快速测定α圆片上铀同位素组成的方法能够准确地测定各个核素的丰度值。 |
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