| 专利名称 | 非晶体透明材料内应力的测量方法及测量装置 | 申请号 | CN201810540405.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108827511A | 公开（授权）日 | 2018.11.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 衡月昆;李楠;蔡志岩;刘术林 | 主分类号 | G01L5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01L5/00(2006.01)I;G01L1/24(2006.01)I | 专利有效期 | 非晶体透明材料内应力的测量方法及测量装置 至非晶体透明材料内应力的测量方法及测量装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本申请公开了一种非晶体透明材料内应力的测量方法，测量方法包括：S20：对待测件上的测量区施加偏振光，获取偏振光在待测件上产生的双折射偏振光之间的光程差，并根据光程差与内应力值的对应关系获取测量区的内应力值。本申请提供的非晶体透明材料内应力的测量方法及测量装置，通过采用偏振光干涉方法与光谱分析方法的结合以获取偏振光的光程差与内应力值之间的函数关系，并通过该函数关系反向获取非晶体透明材料的内应力值，实现了对非晶体透明材料内应力的定量测量。同时，采用光谱分析的方法进行测量，避免了现有技术中色干涉法颜色比对中由于人工及显示设备颜色系统标度偏差，提高了测量精度。 |
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