| 专利名称 | 一种同步辐射的衍射增强成像方法 | 申请号 | CN201810425620.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108645879A | 公开（授权）日 | 2018.10.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 刁千顺;洪振;张小威;袁清习;盛伟繁;胡凌飞;石泓;郑黎荣;姜永诚;刘旭 | 主分类号 | G01N23/20(2018.01)I | IPC主分类号 | G01N23/20(2018.01)I | 专利有效期 | 一种同步辐射的衍射增强成像方法 至一种同步辐射的衍射增强成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种同步辐射的衍射增强成像方法。本方法为：选取两块斜切晶体，一块作为单色器、一块作为分析器；将X射线掠入射到单色器表面上产生的衍射光束入射到待测样品；然后将该单色器绕晶格面法线方向旋转，根据测量光斑尺寸推测斜切因子b值，当其与理论值相当时固定该单色器的旋转角度φ；将X射线透过样品后的光线入射到分析器表面上；然后将分析器绕其晶格面法线旋转角度φ；以衍射面的法线为轴旋转分析器，利用光强探测器检测出射光强度随着角度的变化曲线，记录下该分析器在该变化曲线的峰位、半峰位和峰底对应的角度位置；将该分析器分别调整到步骤4)记录的角度位置上，利用成像探测器分别接收该分析器出射的信号。 |
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