| 专利名称 | 提高超导纳米线单光子探测器计数率的方法及系统 | 申请号 | CN201810107671.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108362389A | 公开（授权）日 | 2018.08.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所;中国科学院大学 | 发明（设计）人 | 尤立星;吕超林;张伟君;李浩;王镇 | 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 提高超导纳米线单光子探测器计数率的方法及系统 至提高超导纳米线单光子探测器计数率的方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种提高超导纳米线单光子探测器计数率的方法及系统，方法包括如下步骤：于所述超导纳米线单光子探测器的输出端串联一电衰减器；其中，所述电衰减器包括输入端及输出端，所述电衰减器的输入端与所述超导纳米线单光子探测器的输出端相连接。本发明通过在超导纳米线单光子探测器的输出端串联电衰减器，由于电衰减器的构型是一个电阻网络，即可以充当串联电阻，同时也可以降低超导纳米线单光子探测器响应脉冲幅度，可以弱化超导纳米线单光子探测器与放大器之间的耦合，降低过冲、反射及电压偏移对超导纳米线单光子探测器的影响，从而改善所述超导纳米线单光子探测器的计数率，并使得所述超导纳米线单光子探测器具有较高的探测效率。 |
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