| 专利名称 | 海底底质界面水下光谱测量系统及测量方法 | 申请号 | CN201810125819.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108333122A | 公开（授权）日 | 2018.07.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院南海海洋研究所 | 发明（设计）人 | 杨跃忠;许占堂;李彩;周雯;王桂芬;曹文熙;曾凯 | 主分类号 | G01N21/25(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/25(2006.01)I;G01N21/17(2006.01)I | 专利有效期 | 海底底质界面水下光谱测量系统及测量方法 至海底底质界面水下光谱测量系统及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种海底底质界面水下光谱测量系统及测量方法，涉及水体光谱测量的技术领域，该系统包括水下测量箱和与水下测量箱连接的探测设备；水下测量箱为密封箱体，该密封箱体内封装有微型电脑，以及与微型电脑连接的第一光谱仪和第二光谱仪；探测设备包括第一光学探头、第二光学探头和深度探头，第二光学探头配置有白板；第一光学探头与第一光谱仪连接，第二光学探头与第二光谱仪连接。本发明实施例提供的一种海底底质界面水下光谱测量系统及测量方法，通过将白板作为参照，计算待测目标物的反射率，从而去除其他未知变量的影响，能够得到更为精确的检测结果和数据。 |
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