| 专利名称 | 彩色物体三维轮廓测量方法 | 申请号 | CN201711464928.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108225217A | 公开（授权）日 | 2018.06.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 宋宗玺;李宝鹏;李伟;雷浩;成鹏飞;申超;高伟;樊学武 | 主分类号 | G01B11/25(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/25(2006.01)I | 专利有效期 | 彩色物体三维轮廓测量方法 至彩色物体三维轮廓测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明属于光学测量技术领域，具体涉及一种彩色物体三维轮廓测量方法。本发明首先利用光度计测量出3CCD相机的三通道耦合矩阵，消除物理器件对测量过程的影响，相比于利用投影红、绿、蓝图像至白纸上计算耦合矩阵具有更高的精度；对于彩色物体表面反射率的求取，该方法实质上相当于在物体每一点都投影了三原色，利用互补关系，通过叠加互补色，求取的反射率矩阵K抵消了干扰。较之投射均匀白光求取的反射率K，投影互补彩色条纹的方法能起到更好的结构光条纹补偿效果，补偿后的图像具有更好的正弦性。本方法只需投影四副图像至彩色物体表面就可以更精确的求得彩色物体的三维轮廓信息，兼顾了测量速度，可以实现快速测量的目标。 |
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