| 专利名称 | 小型化全反射式飞秒激光脉冲形状测量装置 | 申请号 | CN201810037181.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108061605A | 公开（授权）日 | 2018.05.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘军;朱晶鑫;申雄;司哲 | 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 小型化全反射式飞秒激光脉冲形状测量装置 至小型化全反射式飞秒激光脉冲形状测量装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 小型化全反射式飞秒激光脉冲形状宽度测量装置，信号光产生之前全部使用反射式元件，避免了透射式元件引入色散而造成的测量误差，并且避免了带宽的限制；装置的光路结构紧凑稳定，小巧牢固且易于调节。该测量装置原理上采用了自参考光谱干涉方法，利用玻璃薄片等材料的三阶非线性效应获得瞬态光栅信号作为自参考光并与延时待测光进行光谱干涉得到光谱干涉条纹，通过傅里叶变换光谱干涉等方法对干涉条纹的分析处理重建出待测光的光谱和相位信息，从而还原出待测脉冲形状和相位，实现飞秒脉冲形状和宽度的测量。 |
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