| 专利名称 | 一种三维成像光子计数系统及其动态偏压控制方法 | 申请号 | CN201710864804.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107807364A | 公开（授权）日 | 2018.03.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学 | 发明（设计）人 | 苏秀琴;汪书潮;李哲;郝伟;陈松懋;朱文华;夏爱利;张占鹏 | 主分类号 | G01S17/89(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S17/89(2006.01)I | 专利有效期 | 一种三维成像光子计数系统及其动态偏压控制方法 至一种三维成像光子计数系统及其动态偏压控制方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种三维成像光子计数系统及其动态偏压控制方法，该系统包括总控制器、信号发生器、脉冲激光器、发射光学系统、接收光学系统、Gm?APD阵列探测器、TCSPC时间相关光子计数器、信号处理单元、高压模块、温度传感器以及过载保护模块。本发明动态偏压控制方法是：设置初始偏压值V0、TCSPC时间相关光子计数器绘制直方图；信号处理单元解算直方图，获取当前偏压值V1；过载保护模块对实际偏压值V1进行监控，当实际偏压值V1小于探测器击穿电压，则将实际偏压值V1加载到Gm?APD阵列探测器，当实际偏压值V1小于探测器击穿电压，过载保护模块发出报警信号，停止工作。本发明能够动态控制Gm?APD阵列探测器进行探测工作，实现不同强度回波光信号自适应调节。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障