| 专利名称 | 光学元件多波长激光损伤测试与分析系统 | 申请号 | CN201810226781.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108519218A | 公开（授权）日 | 2018.09.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 郝艳飞;孙明营;郭亚晶 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 光学元件多波长激光损伤测试与分析系统 至光学元件多波长激光损伤测试与分析系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种光学元件多波长激光损伤测试与分析系统，该测试系统中能量采集、电机驱动、光束质量监测、损伤图像监测均由主控计算机自动化完成。本发明不仅包含了以往多种单光束损伤探测系统对各类光学元件激光损伤探测与分析的功能，并且能实时观测光学元件损伤的横向与纵向发展过程，测试系统具有从飞秒到纳秒不同激光脉宽的脉冲激光器，是一种自动化的支持多波长的适用于不同激光脉宽的光学元件激光损伤测试系统，为研究多波长激光与材料耦合相互作用提供实验平台。 |
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