| 专利名称 | 一种激光辅助辐射温度测量装置及测量方法 | 申请号 | CN201611257854.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108267240A | 公开（授权）日 | 2018.07.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 发明（设计）人 | 张步法;倪亦萌;郑鸿涛;宋力昕 | 主分类号 | G01K11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01K11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种激光辅助辐射温度测量装置及测量方法 至一种激光辅助辐射温度测量装置及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种激光辅助辐射温度测量装置及测量方法，该装置包括：激光器，该激光器用于在被测物表面照射强度调制的激光；光学系统，该光学系统用于辐射信号的传输，以及确定辐射信号中任两个波长不同的辐射信号；以及电子信号检测系统，该电子信号检测系统接收通过光学系统传输而来的两个波长不同的辐射信号后转换成两个电子信号，并将两个电子信号分别分离出直流信号和交流信号并进行检测和比较。根据本发明，能够改善现有技术中存在的上述困难，被测物表面温度测量不受材料辐射率的影响，且对激光及信号波长的选择没有限制。 |
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