| 专利名称 | 一种低温辐射计用激光光束定位及控制系统 | 申请号 | CN201711172669.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108106722A | 公开（授权）日 | 2018.06.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 夏志伟;方伟;王玉鹏 | 主分类号 | G01J1/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/02(2006.01)I;G01J1/08(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种低温辐射计用激光光束定位及控制系统 至一种低温辐射计用激光光束定位及控制系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种低温辐射计用激光光束定位及控制系统，激光光束依次经过所述第一直角棱镜、第二直角棱镜、平面反射镜通孔、真空窗口和视场光阑进入所述低温辐射计接收腔内；所述平面反射镜倾斜设置，所述激光光束的散射光经视场光阑反射，经平面反射镜反射至离轴抛物面镜，再由离轴抛物面镜聚焦并成像于CMOS探测器上；所述控制模块接收CMOS探测器反馈的信息，并控制二维平移台的移动。本发明提供的低温辐射计用激光光束定位及控制系统，能够自动纠正激光光束的偏离误差，确保了激光光束的精确入射，实现了激光功率完全入射到低温辐射计接收腔内。不仅有助于降低功率测量的不确定度、提高功率测量准确性，同时也提高了辐射定标的精度。 |
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