| 专利名称 | 高超声速溢流液膜冷却膜厚测量探头的标定装置 | 申请号 | CN201710442353.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107356178A | 公开（授权）日 | 2017.11.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院力学研究所 | 发明（设计）人 | 苑朝凯;姜宗林;陈宏;俞鸿儒 | 主分类号 | G01B5/06(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B5/06(2006.01)I | 专利有效期 | 高超声速溢流液膜冷却膜厚测量探头的标定装置 至高超声速溢流液膜冷却膜厚测量探头的标定装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了高超声速溢流液膜冷却膜厚测量探头的标定装置，包括：基座；测量架，安装在所述基座上，为U形且开口朝向水平方向；水槽，水平安装在所述测量架的下支座上，带有容纳液体的凹槽，在底部设置有安装测量探头的通孔；螺旋测微杆，安装在所述测量架的上支座上且与所述水槽垂直；调节块，安装在所述螺旋测微杆靠近所述水槽的一端且与所述水槽平行。本发明可以通过调节块实现任意液膜厚度调节，满足不同标定实验要求，通过螺旋测微杆可以对调节块实现细微调节，提高调节的液膜厚度精度，解决了测量探头输出特性不确定的问题。 |
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