| 专利名称 | 一种FTIR测量光电探测器响应的宽谱校正方法 | 申请号 | CN201810089435.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108489609A | 公开（授权）日 | 2018.09.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 张永刚;邵秀梅;张忆南;李雪;龚海梅;方家熊 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J5/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种FTIR测量光电探测器响应的宽谱校正方法 至一种FTIR测量光电探测器响应的宽谱校正方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种FTIR测量光电探测器响应的宽谱校正方法，本方法以作为FTIR光谱仪标准配置的具有宽光谱范围平坦响应的热释电探测器为基础，得到该探测器及放大电路对选定光源和分束器组合在不同扫描速度下的响应，提取相关数据并拟合出该探测器及放大电路的频率响应特性。利用此频率响应特性对特定光源和分束器组合的原始输出特性进行校正，即得到其实际的输出特性。以此校正后的实际输出特性作为背景光谱，即可对测量所得的光电探测器原始响应光谱进行参比操作，得到校正后的光电探测器实际响应光谱。鉴于热释电探测器是FTIR光谱仪的标配且具有宽谱响应，因而此方法是普适且宽谱的，适用于各种FTIR光谱仪中不同的光源和分束器组合。 |
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