一种磁颗粒检测系统的误差提取方法和装置

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专利名称 一种磁颗粒检测系统的误差提取方法和装置 申请号 CN201711012113.3 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN107941660A 公开(授权)日 2018.04.20 申请(专利权)人 中国科学院电工研究所 发明(设计)人 杨东旭;王明 主分类号 G01N15/00(2006.01)I IPC主分类号 G01N15/00(2006.01)I;G01N15/06(2006.01)I 专利有效期 一种磁颗粒检测系统的误差提取方法和装置 至一种磁颗粒检测系统的误差提取方法和装置 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 一种磁颗粒检测系统的误差提取方法和装置,利用两种相对独立的磁颗粒检测方法,以磁导率为隐变量建立感应线圈电压和感应线圈电感之间的联系,实现感应线圈电感理论值和测量值之间的误差提取,并由此得到感应电压误差和共振频率误差。本发明误差提取装置中,信号运算模块(8)的输入端连接磁颗粒检测系统的感应线圈,测量感应线圈的电压,计算感应线圈电感理论值。信号运算模块(8)的输出端连接误差提取模块(10)的输入端。扫频测量模块(9)的输入端连接磁颗粒检测系统的感应线圈,测量感应线圈的电感值,扫频测量模块(9)的输出端连接误差提取模块(10)的输入端。误差提取模块(10)计算感应线圈电感误差、电压误差和共振频率误差。

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