| 专利名称 | 一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 | 申请号 | CN201711281785.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107830928A | 公开（授权）日 | 2018.03.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 徐青山;杨东;李建玉;徐文清;詹杰;魏合理 | 主分类号 | G01J1/42(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/42(2006.01)I;G01N21/53(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I;G05D3/12(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 至一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计，上位工控机下发测量命令，在确定初始位置后，启动视日轨迹跟踪命令，程序计算出转到太阳方位需要的水平俯仰电机步数，发送给下位机嵌入式控制系统，下位机嵌入式控制电机驱动系统实现水平、俯仰电机转动使探测头到当前太阳的方位后，太阳的影像出现在CCD探测器视场内，启动CCD图像精跟踪，太阳光经所述跟踪成像光学系统后照射在CCD探测器的靶面中心处，对视场内的太阳影像进行采集与存储并发送给上位工控机，上位工控机程序对采集到的图像进行分析是否跟准了太阳。本发明采用了图像跟踪技术替代了四象限跟踪，实现全天候下的跟踪，实现大视场的跟踪。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障