| 专利名称 | 一种小角X射线散射的双模型拟合方法及系统 | 申请号 | CN201610535005.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107589136A | 公开（授权）日 | 2018.01.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院化学研究所;深圳大学 | 发明（设计）人 | 海洋;朱才镇;付民;赵宁;徐坚 | 主分类号 | G01N23/201(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/201(2006.01)I | 专利有效期 | 一种小角X射线散射的双模型拟合方法及系统 至一种小角X射线散射的双模型拟合方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提出了一种小角X射线散射的双模型拟合方法，包括：获取步骤：获得被分析对象的散射强度实验图谱；建模步骤：根据散射强度实验图谱的特征构建双模型；解析步骤：调整各向同性散射体的散射强度计算公式模型和取向散射体的散射强度计算公式模型中的各可调参数，使得各向同性散射体的散射强度计算公式模型和取向散射体的散射强度计算公式模型相加后得到的计算图谱与所述散射强度实验图谱之差最小，即可解析出各模型的参数。本发明还提出了一种小角X射线散射的双模型拟合系统。本发明为利用小角X射线散射进行有效观测材料介观尺度结构的无损检测提供了更好的数据支持。 |
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