| 专利名称 | 一种通用的三维欠采样轨迹设计方法 | 申请号 | CN201710383120.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107219481A | 公开（授权）日 | 2017.09.29 | 申请（专利权）人 | 深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 朱燕杰;邹莉娴;梁栋;刘新;郑海荣 | 主分类号 | G01R33/48(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/48(2006.01)I;G01R33/561(2006.01)I | 专利有效期 | 一种通用的三维欠采样轨迹设计方法 至一种通用的三维欠采样轨迹设计方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及磁共振成像，更具体地涉及一种通用的三维欠采样轨迹设计方法。提供了一种通用的三维欠采样轨迹设计方法，所述方法包括以下步骤：i)生成径向或螺旋轨迹线；ii)网格化轨迹空间；iii)从n＝1开始，依次将轨迹线上的轨迹点映射到笛卡尔网格点上；以及iv)重复步骤iii)直到所有轨迹点映射到笛卡尔网格点上。所述方法可以灵活地根据重建算法、成像序列以及图像对比的要求，直接计算出K空间的填充顺序，并用于序列设计。同时，所述方法满足重建算法的要求，能通过CS和PI联合算法、半傅立叶重建算法等重建图像。本发明提出的方法可以提高成像质量，可用于医学成像等。 |
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