| 专利名称 | 一种总剂量效应的探测方法及装置 | 申请号 | CN201710248717.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107144776A | 公开（授权）日 | 2017.09.08 | 申请（专利权）人 | 深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 邵翠萍;李慧云 | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 专利有效期 | 一种总剂量效应的探测方法及装置 至一种总剂量效应的探测方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明适用电子信息技术领域，提供了一种总剂量效应的探测方法及装置，所述方法包括：对待测芯片中的电路进行可测性设计，构造待测芯片总剂量效应的原始信号，生成原始信号的观测矩阵及观测矩阵中行向量对应的测试向量集，对预设数量个待测芯片进行总剂量辐照，由所有测试向量集对辐照后对应的测试芯片进行测试，以确定辐照后的待测芯片是否出错，当出错时，根据所有测试结果和观测矩阵生成压缩感知方程，通过预设的信号重构算法和压缩感知方程生成待测芯片内部总剂量效应的敏感逻辑单元分布，从而结合可测性设计和压缩感知理论，观测待测芯片内部每个逻辑单元在总剂量辐照后的状态，高效、准确地定位待测芯片内部对总剂量效应敏感的逻辑单元。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障