| 专利名称 | 一种对具有平行线特征的目标空间指向测量方法 | 申请号 | CN201711462286.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108180829A | 公开（授权）日 | 2018.06.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学;西安中科光电精密工程有限公司 | 发明（设计）人 | 朱帆;于芳苏;吴易明;郝冲;林俤;姚震 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I | 专利有效期 | 一种对具有平行线特征的目标空间指向测量方法 至一种对具有平行线特征的目标空间指向测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉一种对具有平行线特征的目标空间指向测量方法，解决现有测量方法必须在测量目标上设置合作标志点、测量步骤繁复、测量过程慢、测量仪器复杂、设备昂贵的问题。该方法包括以下步骤：1)在具有平行线特征的目标前架设相机；2)相机对目标进行成像；3)相机所成图像传输给计算机，对目标的平行线轮廓或平行线标志进行图像提取；4)建立坐标系，物空间直线L1和L2所成图像为直线L1′和L2′；5)计算得A1、B1、D1、A2、B2、D2；6)将得到的A1、B1、D1、A2、B2、D2以及镜头焦距值f′代入计算式，得到平行线特征的目标空间指向在相机坐标系OXYZ中的表述。 |
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