| 专利名称 | 激光等离子体电子密度测量装置及测量方法 | 申请号 | CN201711350449.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108174503A | 公开（授权）日 | 2018.06.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 陶华;刘诚;朱健强 | 主分类号 | H05H1/00(2006.01)I | IPC主分类号 | H05H1/00(2006.01)I | 专利有效期 | 激光等离子体电子密度测量装置及测量方法 至激光等离子体电子密度测量装置及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种激光等离子体电子密度测量装置，包括驱动激光束、第一聚焦镜、激光器、扩束系统、第二聚焦镜、编码板、光斑探测器和计算机。驱动激光束被第一聚焦镜聚焦后与物质相互作用产生等离子体，激光器产生的激光束作为探测光对激光等离子体进行诊断，其通过扩束系统后穿过待测等离子体，待测光经过第二聚焦镜聚焦后照射到编码板上，用光斑探测器记录其所形成的衍射斑。利用这个衍射斑强度和迭代算法重构出待测光的相位分布。测出光经过待测等离子体后的相位变化，光程变化即可确定，用阿贝尔变换处理光程差的数据，从而获得电子密度的分布。本发明无需干涉光路，受环境影响较小，装置结构简单，测量分辨率高，满足于激光等离子体电子密度测量的要求。 1 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障