| 专利名称 | 一种空间带电粒子辐射剂量的测量装置及方法 | 申请号 | CN201710046128.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108345022A | 公开（授权）日 | 2018.07.31 | 申请（专利权）人 | 中国科学院国家空间科学中心 | 发明（设计）人 | 张斌全;余庆龙;张珅毅;荆涛;梁金宝;孙越强 | 主分类号 | G01T1/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种空间带电粒子辐射剂量的测量装置及方法 至一种空间带电粒子辐射剂量的测量装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种空间带电粒子辐射剂量的测量装置，所述装置包括：带电粒子传感器和信号处理电路；所述带电粒子传感器用于将带电粒子辐射转换为自由电荷并进行输出；所述信号处理电路用于对带电粒子传感器输出的电荷进行处理，得到带电粒子的辐射剂量。此外，基于该装置，本发明还公开了一种空间带电粒子辐射剂量的测量方法，该方法能够获取空间带电粒子的辐射剂量。本发明的装置采用硅半导体传感器来测量辐射剂量，可以对单个粒子信号进行测量分析，提高了剂量测量的灵敏度，灵敏度可以达到μrad(Si)水平；本发明的硅半导体传感器为高纯高阻硅材料，工作电压低，降低了装置的功耗。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障