| 专利名称 | 高重复率超短光脉冲载波包络相位的测量系统 | 申请号 | CN201711367748.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108318143A | 公开（授权）日 | 2018.07.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 程昭;王屹山;王向林;赵卫 | 主分类号 | G01J9/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/02(2006.01)I | 专利有效期 | 高重复率超短光脉冲载波包络相位的测量系统 至高重复率超短光脉冲载波包络相位的测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种高重复率超短光脉冲载波包络相位的测量系统，该系统采用光脉冲耦合镜沿着具有延时T的两个共线超短光脉冲耦合到光谱色散成像装置的入口，光谱色散成像装置将两个共线超短光脉冲的干涉光谱映射成与相位差相关的空间干涉条纹图，并通过分束器将其分为强度相同的两部分，采用两个调制周期与干涉条纹相同且位移差1/4周期的空间调制器分别调制两部分条纹图。采用两个相同的光电探测装置探测透过两个空间调制器的信号强度。通过两个光电探测装置构成的二维参量曲线的极角即可得到超短光脉冲载波包络相位差。该系统实现了兆赫兹高重复频率光脉冲载波包络相位的连续的单发测量及控制，并可直观实时观测脉冲的载波包络相位。 |
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