| 专利名称 | 具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法 | 申请号 | CN201711292776.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108169257A | 公开（授权）日 | 2018.06.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 朱佩平;何其利;廖可梁;袁清习;张凯;黄万霞;朱中柱;王研 | 主分类号 | G01N23/04(2018.01)I | IPC主分类号 | G01N23/04(2018.01)I | 专利有效期 | 具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法 至具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法，包括以下步骤：首先根据角度信号响应成像机制，在X射线微分相位衬度显微镜像面拍摄样品各转角的谷位放大像、上坡放大像、峰位放大像、下坡放大像，其次根据三种定量成像机制，在X射线微分相位衬度显微镜物面上重建样品各转角的二维吸收衬度像、二维折射衬度像和二维散射衬度像，然后根据逆Radon变换，重建样品的线性吸收系数三维像、线性散射系数三维像、折射率实部衰减率三维像和折射率实部衰减率导数三维像。通过上述方法可以对直径5μm以上的完整细胞进行三维成像，分辨率达到纳米量级。 1 |
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