| 专利名称 | 一种传感器设备低温测试台 | 申请号 | CN201711267545.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107941261A | 公开（授权）日 | 2018.04.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 米正辉;沙鹏;贺斐思;翟纪元 | 主分类号 | G01D18/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01D18/00(2006.01)I;G01L25/00(2006.01)I;G01L27/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种传感器设备低温测试台 至一种传感器设备低温测试台 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种传感器设备低温测试台，其特征在于，包括恒温器、综合工装台和预加载装置；所述恒温器内设有一液氦池，所述综合工装台位于所述液氦池内；所述预加载装置包括真空管、传动单元和力加载控制单元，传动单元位于真空管内，力加载控制单元与传动单元连接，力加载控制单元与真空管密封连接，所述真空管通过法兰与所述恒温器的顶部开口密封连接；所述综合工装台的最外层为真空盒，所述真空盒与所述预加载装置的真空管密封连接，所述真空盒内部设有用于安装待测传感器设备的测试工装，所述真空管内的传动单元与所述测试工装连接。本发明测试成本低、效率高，便于操作，易于实现连续变化温度下低温传感器性能的测量。 |
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