| 专利名称 | 双光栅偏振点衍射干涉装置以及波前测试方法 | 申请号 | CN201711287015.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107830937A | 公开（授权）日 | 2018.03.23 | 申请（专利权）人 | 中科院南京天文仪器有限公司 | 发明（设计）人 | 林冬冬;李金鹏;胡明勇;毛羽西;朱庆生;毕勇;郑锋华;李季 | 主分类号 | G01J9/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/02(2006.01)I | 专利有效期 | 双光栅偏振点衍射干涉装置以及波前测试方法 至双光栅偏振点衍射干涉装置以及波前测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种双光栅偏振点衍射干涉装置以及波前测试方法，包括分束光栅、第一偏振片、点衍射板PDP、第二偏振片、平面镜、合束光栅、空间移相组件、CCD图像传感器；双光栅偏振点衍射装置采用分束光栅进行分光，以实现后续光路的相干光调制；采用合束光栅形成共光路结构，以实现检测装置的光干涉，相干光经准直物镜入射到空间移相组件中，最后在CCD图像传感器上采集到移相量相差90°的空间移相干涉图，采用移相算法解算待测波前。 |
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