| 专利名称 | 一种测试光电经纬仪在外场时的调制传递函数的方法 | 申请号 | CN201710828490.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107782279A | 公开（授权）日 | 2018.03.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 张宁;叶露;宋莹;沈湘衡 | 主分类号 | G01C1/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C1/02(2006.01)I;G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测试光电经纬仪在外场时的调制传递函数的方法 至一种测试光电经纬仪在外场时的调制传递函数的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明实施例公开一种基于多元线性回归模型反演计算光电经纬仪在外场时的调制传递函数(MTF)的方法，该方法通过在实验室测试目标模拟源获取建立多元线性回归模型的因变量和自变量，再采用最小二乘法计算获得多元线性回归模型中的回归系数及常量；在外场环境中，将光电经纬仪所获取图像的图像特征清晰度向量作为多元线性回归模型中的自变量，代入多元线性回归模型中即可计算得到此时外场环境下的调制传递函数。本发明实施例解决了外场环境下无法测试光电经纬仪的调制传递函数的问题，将该方法获取的调制传递函数反馈至光电经纬仪的补偿机构，可有效地提高成像质量。 |
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