| 专利名称 | 一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法 | 申请号 | CN201610617865.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107664648A | 公开（授权）日 | 2018.02.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 朱佩平;张凯;袁清习;黄万霞;朱中柱 | 主分类号 | G01N23/04(2018.01)I | IPC主分类号 | G01N23/04(2018.01)I;G01N23/083(2018.01)I | 专利有效期 | 一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法 至一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法，所述X射线微分相位衬度显微镜系统包括：用于产生X射线的光源；以及沿X射线传播方向依次设置的聚光镜、中心光阑、分束光栅、针孔、样品台、物镜、环形分析光栅和成像探测器。本发明的有益效果是：该X射线微分相位衬度显微镜系统，仅在传统的X射线显微镜中增加分束光栅和环形分析光栅，就能实现相位衬度定量成像，具有结构简单、易于推广的优点。另外，可以将X射线光源、聚光镜、分束光栅集成为一个X射线环形栅源元件，则整个X射线微分相位衬度显微镜系统长度可以进一步缩短，不仅可以降低X射线显微镜系统的制造成本，而且光的利用效率也能进一步提高。 |
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