| 专利名称 | 一种测量光在探测器里平均反射步长的方法 | 申请号 | CN201710397900.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107389612A | 公开（授权）日 | 2017.11.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 李秀荣;肖刚;左雄;冯少辉;李骢;王玲玉;程宁 | 主分类号 | G01N21/47(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/47(2006.01)I;G01J1/42(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测量光在探测器里平均反射步长的方法 至一种测量光在探测器里平均反射步长的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种测量光在探测器里平均反射步长的方法。本方法为：1)在选取的内壁为漫反射为主高反射材料的探测器内填充待测介质，并设置一个光电倍增管；2)利用选取的光源在该探测器里照射，用所述光电倍增管采集光信号；3)改变该探测器内壁的反射面积，重复步骤2)；然后根据采集的光信号拟合得到不同反射面积时光子在该探测器的有效衰减长度λ’；4)根据步骤3)得到的数据，用公式1/λ’＝1/λ?ln(f)/L?ln(r)/L拟合λ’关于反射面积占该探测器内壁面积比例r的对应点，通过拟合测量出光在该探测器里填充待测介质时的平均反射步长L。本方法操作简单且误差小精度高，原理新颖，具有很强的深度开发和应用价值。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障