| 专利名称 | 适用于光电跟踪系统的精跟踪控制算法验证系统及方法 | 申请号 | CN201710639053.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107272664A | 公开（授权）日 | 2017.10.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 刘永凯;张玉良;高世杰;王建立;盛磊;伞晓刚;曾飞;耿天文;陈云善;张兴亮 | 主分类号 | G05B23/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G05B23/02(2006.01)I | 专利有效期 | 适用于光电跟踪系统的精跟踪控制算法验证系统及方法 至适用于光电跟踪系统的精跟踪控制算法验证系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 |
适用于光电跟踪设备的精跟踪算法验证系统及验证方法涉及一种精跟踪控制算法的验证系统及方法，该系统包括：半导体激光器、发射光纤、离轴长焦平行光管、扰动模拟器、扰动模拟器驱动器、扰动控制电路板、精跟踪执行机构、精跟踪驱动器、精跟踪控制电路板、主控计算机、同轴望远镜系统、CMOS图像传感器和光斑图像显示器。扰动控制电路板扰动，精跟踪控制电路板依待验证控制算法进行跟踪，分别记录光斑位置信息，并计算未跟踪脱靶量K与跟踪后脱靶量V，计算隔离度评价该算法的有效性， |
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