| 专利名称 | 一种基于局部统计相关性的非均匀性校正方法及装置 | 申请号 | CN201710438956.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107271046A | 公开（授权）日 | 2017.10.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 何斌;霍丽君;周达标 | 主分类号 | G01J5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于局部统计相关性的非均匀性校正方法及装置 至一种基于局部统计相关性的非均匀性校正方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于局部统计相关性的非均匀性校正方法及装置。本发明的基于局部统计相关性的非均匀性校正方法包括：连续采集F帧图像；标定所述采集的F帧图像；递推计算F帧标定后图像的均值得到均值图像；对均值图像进行均值滤波得到滤波后图像；将所述滤波后图像与均值图像作差，得到校正系数矩阵。本发明还公开了一种基于局部统计相关性的非均匀性校正装置。 |
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