| 专利名称 | 一种测定拉曼光谱仪中激光入射角的方法 | 申请号 | CN201610132777.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107179174A | 公开（授权）日 | 2017.09.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 发明（设计）人 | 胡匀匀;周桃飞;郑树楠;王建峰;徐科 | 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测定拉曼光谱仪中激光入射角的方法 至一种测定拉曼光谱仪中激光入射角的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种测定拉曼光谱仪中激光入射角的方法，包括：选取六方晶体的半极性面，并在其上作出相互垂直且均垂直于表面法线的X轴和Y轴；将拉曼光谱仪的激光入射至半极性面上；将六方晶体围绕表面法线旋转，并分别采集六方晶体在不同位置的拉曼光谱，直至旋转角不少于360°；分别提取六方晶体在不同位置的拉曼光谱中的准纵光学波声子模和准横光学波声子模的拉曼频移，作出拉曼频移?旋转角的关系拟合图；拟定非常光折射角的度数并推定拉曼频移估算值?旋转角的关系图，直至确定非常光折射角的度数，计算激光入射角。根据本发明的方法采用原位旋转的方法测定，不改变激光光路；同时，该方法还无需借助其他设备方法，通过拟合比对即可，方法简单。 |
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