一种户用光储一体机测试方法

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专利名称 一种户用光储一体机测试方法 申请号 CN201710401035.X 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN107134977A 公开(授权)日 2017.09.05 申请(专利权)人 中国科学院电工研究所 发明(设计)人 高超;唐西胜 主分类号 H02S50/00(2014.01)I IPC主分类号 H02S50/00(2014.01)I;G06F17/50(2006.01)I 专利有效期 一种户用光储一体机测试方法 至一种户用光储一体机测试方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 一种户用光储一体机的测试方法,步骤如下:步骤1:利用实时仿真器建立仿真测试平台;步骤2:根据户用光储一体机基本特性建立户用光储一体机仿真模型;步骤3:利用仿真测试平台进行全数字仿真校验仿真测试平台准确度;步骤4:利用硬件在环实验对户用光储一体机仿真模型进行功能校验;步骤5:利用硬件在环实验对户用光储一体机实物进行效率测试、功率因素测试和功能测试。本发明实现户用光储一体机仿真模型和实体机的相互校验,可以完成对户用光储一体机效率测试、功率因数测试和功能测试,可用于户用光储一体机并网前测试。

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