| 专利名称 | 快速鉴别辐照后互补金属氧化物半导体传感器随机电码信号的方法 | 申请号 | CN201710200747.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107063329A | 公开（授权）日 | 2017.08.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院新疆理化技术研究所 | 发明（设计）人 | 冯婕;张翔;文林;马林东;李豫东;郭旗 | 主分类号 | G01D18/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01D18/00(2006.01)I | 专利有效期 | 快速鉴别辐照后互补金属氧化物半导体传感器随机电码信号的方法 至快速鉴别辐照后互补金属氧化物半导体传感器随机电码信号的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及快速鉴别辐照后互补金属氧化物半导体传感器随机电码信号的方法，该方法涉及装置是由静电试验平台、样品测试板、互补金属氧化物半导体传感器样品和计算机组成，利用计算机上安装的读图软件采集大量暗场图像，将图像数据转换为灰度值随时间变化的信号；然后将所获得的灰度值随时间变化的像素信号重新排序，求出其梯度信息，再对像素信号的梯度信息进行滤波，将滤波后的梯度信号与原始的重新排序后的信号相结合，进行重建，得到的重建排序信号，计算信号的波动幅度及台阶个数，将未滤波的信号通过特定判据的判别结果和滤波后的信号通过特定判据的判别结果进行或关系运算，其结果可以正确判断一个像素是否为随机电码信号。本发明操作方便快捷，具有一定的通用性。 |
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