| 专利名称 | 一种大面积PMT的光耦合扫描测试装置和方法 | 申请号 | CN201610083946.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107044980A | 公开（授权）日 | 2017.08.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 钱森;夏经铠;衡月昆;李楠 | 主分类号 | G01N21/84(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/84(2006.01)I | 专利有效期 | 一种大面积PMT的光耦合扫描测试装置和方法 至一种大面积PMT的光耦合扫描测试装置和方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种大面积PMT的光耦合扫描测试装置和方法，装置主要用于对PMT的均匀性进行扫描测试，包括旋转平台以及光耦合装置；PMT可转动地安装于旋转平台上，旋转平台能驱动PMT旋转；光耦合装置包括一光源、多个导光件、一导光架及一驱动装置，各导光件的接收端通过光接头固定于导光架；驱动装置驱动导光架或光源移动，以带动光源可选择性光连接各导光件的接收端；各导光件的输出端安装有光接头，各输出端光接头顺PMT的表面间隔布置，输出端光接头顺一第一周面方向排布，PMT旋转中，PMT外表面顺一第二周面方向旋转，第一周面方向与第二周面方向相交；且多个导光件出光方向对齐PMT的表面法线。尤其适用于大面积的PMT的扫描测试。 |
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