| 专利名称 | 基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法 | 申请号 | CN201710116968.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106886983A | 公开（授权）日 | 2017.06.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 王德江;周达标;霍丽君;刘让;贾平 | 主分类号 | G06T5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06T5/00(2006.01)I;G06T5/20(2006.01)I | 专利有效期 | 基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法 至基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法，具体过程为：步骤一、针对待校正的F帧图像，利用Laplace算子对其进行卷积处理；步骤二、对卷积后F帧图像的同一像素点取中值，逐像素计算后得到中值矩阵；步骤三、基于所述中值矩阵，利用反卷积算法计算校正系数矩阵b；利用所述校正系数矩阵b对待校正图像进行校正。本发明基于相邻四个像素具有统计一致性的假设，对图像进行卷积、取中值最终计算出校正系数矩阵进行校正，该方法能够校正非均匀性噪声中的高频分量和低频分量，不需要预存基于定标法的校正系数，从而彻底解决探测器辐射响应随时间漂移的问题。 |
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