| 专利名称 | 白光中子成像方法及采用其的材料组成无损检测方法 | 申请号 | CN201611270697.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106855522A | 公开（授权）日 | 2017.06.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 唐靖宇;谭志新 | 主分类号 | G01N23/05(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/05(2006.01)I | 专利有效期 | 白光中子成像方法及采用其的材料组成无损检测方法 至白光中子成像方法及采用其的材料组成无损检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 |
一种白光中子成像方法，包括步骤：中子源发射脉冲中子束并记录发射时间；探测器探测脉冲中子束得到中子的位置和到达时间并传输到处理单元；处理单元根据中子的到达时间及记录的发射时间得到中子的能量信息，对中子按能量分组得到二维中子通量分布 |
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