嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法

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专利名称 嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法 申请号 CN201510864079.7 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN106815101A 公开(授权)日 2017.06.09 申请(专利权)人 中国科学院沈阳自动化研究所 发明(设计)人 于海斌;曾鹏;徐皑冬;闫炳均;宋岩;王志平;胡波;王锴;孙俊男 主分类号 G06F11/22(2006.01)I IPC主分类号 G06F11/22(2006.01)I 专利有效期 嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法 至嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明涉及嵌入式外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法。本发明首先将数据存储区域分为数据区域和数据备份区域,CPU将数据区域和数据备份区域分别按地址平均分为8部分,按顺序对数据区域部分进行诊断;在诊断的过程中,先将一部分数据区域数据拷贝到相应的备份区域中,再对数据区域进行数据诊断,诊断结束将备份区域数据拷贝回相应数据区域;本发明诊断程序运行在系统空闲时间,可以把主控制器从繁重的存储器的诊断程序中解放出来,和传统的诊断方法相比,主控制器运行开销比较小,主控制器利用率比较高。本发明能够方便实现程序运行空间的切换,不需要动态更改程序的运行空间,程序设计简单,减少了程序运行空间动态变换产生的故障。

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