| 专利名称 | 同位素光谱分析系统的温控装置 | 申请号 | CN201611047898.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106769975A | 公开（授权）日 | 2017.05.31 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 李相贤;高闽光;童晶晶;李胜;王亚萍;石建国;刘建国;刘文清 | 主分类号 | G01N21/3504(2014.01)I | IPC主分类号 | G01N21/3504(2014.01)I | 专利有效期 | 同位素光谱分析系统的温控装置 至同位素光谱分析系统的温控装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明属于同位素红外光谱分析技术领域，具体涉及一种同位素光谱分析系统的温控装置，包括第一密封保温箱、第二密封保温箱、预热恒温箱及扰动装置；所述第一密封保温箱位于第二密封保温箱内部，第一密封保温箱和第二密封保温箱内充有氮气；样品池位于第一密封保温箱内，样品池的进气口与扰动装置的出气口连通，扰动装置的进气口与预热恒温箱的出气口连通；本发明的预热恒温箱能够在待测气体进入样品池前对待测气体进行预加热，扰动装置能够使待测气体的温度分配均匀，使其到达与样品池所在环境相同的恒温状态，避免待测气体在常温下注入样品池时会导致样品池内的温度产生波动，确保样品池保持精确的恒温状态，从而提高测量精度。 |
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