| 专利名称 | 一种成像光谱仪定标位置修正的方法及装置 | 申请号 | CN201611217915.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106769909A | 公开（授权）日 | 2017.05.31 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 崔继承;王明佳;朱继伟;姚雪峰;潘明忠 | 主分类号 | G01N21/27(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/27(2006.01)I | 专利有效期 | 一种成像光谱仪定标位置修正的方法及装置 至一种成像光谱仪定标位置修正的方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明实施例公开了一种成像光谱仪定标位置修正的方法，分别根据图像处理方法与光学理论设计方法计算出多个定标波长各自对应在成像光谱仪成像图中的光斑实际位置与光斑理论位置；然后根据计算出各光斑实际位置与相应的光斑理论位置的偏差对谱图矩阵中相应波长对应的位置进行调整，以完成对成像光谱仪定标位置的修正。本申请提供的技术方案通过在线检测光学理论设计造成的定标偏差，获得准确度高的谱图矩阵，提高了成像光谱仪定标谱图矩阵的精度，输出了高精度的光谱，提高了成像光谱仪系统精度以及测量精度。此外，本发明实施例还提供了相应的实现装置，进一步使得所述方法更具有实用性，所述装置具有相应的优点。 |
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