| 专利名称 | 用于点源透射比法杂散光系数测试的宽动态光电探测系统 | 申请号 | CN201611115941.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106767916A | 公开（授权）日 | 2017.05.31 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 张宁;叶露;宋莹;吴瑾;沈湘衡 | 主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 用于点源透射比法杂散光系数测试的宽动态光电探测系统 至用于点源透射比法杂散光系数测试的宽动态光电探测系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种用于点源透射比法杂散光系数测试的宽动态光电探测系统，属于星敏感器、空间光学遥感成像相机等空间光学仪器光学性能测试领域。解决现有探测装置探测量程不够、采用不同类型的光电探测器组合测试过程出现非线性的技术问题。所述宽动态光电探测系统利用三个相同的宽动态光电探测装置分别探测空间光学系统入瞳、像面处辐照度和背景杂散光，数据采集计算机通过RS422接口采集光电探测装置数据并计算点源透射比。本发明通过三个宽动态光电探测装置实现辐照度的大范围线性测量，探测动态范围优于109，满足空间光学仪器点源透射比法的杂散光系数测试要求，对于研制专门的基于点源透射比法的杂散光测试设备具有重要意义。 |
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