| 专利名称 | 一种超导约瑟夫森平面磁梯度计 | 申请号 | CN201611188798.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106707203A | 公开（授权）日 | 2017.05.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 伍岳;肖立业;侯世中 | 主分类号 | G01R33/022(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/022(2006.01)I;G01R33/035(2006.01)I | 专利有效期 | 一种超导约瑟夫森平面磁梯度计 至一种超导约瑟夫森平面磁梯度计 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种超导约瑟夫森平面磁梯度计，包括下层超导层(1)、非超导介质层(2)及上层超导层(3)。所述的下层超导层(1)为闭合双环结构。组成闭合双环的两个环路形状及尺寸相同，闭合双环之间存在公共环路区域。非超导介质层(2)位于下层超导层(1)的公共环路区域上方，上层超导层(3)位于非超导介质层(2)上方。下层超导层(1)、非超导介质层(2)，及上层超导层(3)共同覆盖的区域构成一个约瑟夫森结。约瑟夫森结沿下层超导层公共环路区域的环路切线方向的长度(4)大于约瑟夫森结的穿透深度λJ，且二者的比值大于2π。 |
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