| 专利名称 | 宽频段稳态场下场线耦合电平的测试系统 | 申请号 | CN201611240071.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106645875A | 公开（授权）日 | 2017.05.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 葛欣宏;金辉 | 主分类号 | G01R19/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R19/00(2006.01)I;H04B17/345(2015.01)I | 专利有效期 | 宽频段稳态场下场线耦合电平的测试系统 至宽频段稳态场下场线耦合电平的测试系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种宽频段稳态场下场线耦合电平的测试系统，包括：用于产生宽频段稳态场的信号发生装置；两端连接有负载的受试线缆，所述受试线缆表面设置有用于检测所述受试电缆不同位置处电场强度的电场探头；与所述负载连接的光纤电平测量装置，用于测量所述受试线缆在宽频段稳态场下产生的场线耦合电平。本发明在受试线缆表面设置电场探头，替换了现有技术中的电流探头，能够有效屏蔽干扰电平，并在天线发射某一固定场强电磁波时，能够获取受试电缆不同位置处入射的电场强度，有效提高宽频段稳态场下场线耦合电平的测试系统的测试精度。 |
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