| 专利名称 | 一种用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光装置 | 申请号 | CN201611192255.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106596606A | 公开（授权）日 | 2017.04.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明（设计）人 | 柳义;文闻;阴广志;高兴宇 | 主分类号 | G01N23/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/20(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光装置 至一种用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光装置，包括：一安装在面探测器的直通光束阻挡片上并与一外围控制计算机连接的光电二极管；以及一安装在所述光电二极管前面的X光衰减片。该装置还包括一套设于所述光电二极管上的套子，且所述X光衰减片安装于所述套子的前端。本发明在对样品的切光过程中采用所述光电二极管代替衍射仪自带的点探测器，简化了使用面探测器进行X光反射式衍射测试的实验步骤，节省了时间，提高了实验的效率。 |
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