| 专利名称 | 一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置 | 申请号 | CN201821971462.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN209069220U | 公开（授权）日 | 2019.07.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 赵建平; 吴康彪; 冯常; 廖礼斌; 陈志波; 张闰; 黄冰峰; 蔡根 | 主分类号 | G01B11/24 | IPC主分类号 | G01B11/24 | 专利有效期 | 一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置 至一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种在核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置，属于核工业测量设备领域，测量装置包括辐射屏蔽壳体(1)、测量模块(2)、安装壳体(3)和控制处理系统(4)。测量模块(2)安装在安装壳体(3)上，安装壳体(3)安装在辐射屏蔽壳体(1)上。本实用新型主要用于核辐射的环境下，对待测件表面轮廓进行测量。使用上述核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置实现在核辐射环境下对待测件表面轮廓进行高精度的测量，同时该设备具备一定耐辐射能力，结构紧凑，操作简便，适应性和抗干扰强，可获取不同形状待测件的表面轮廓参数。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障