| 专利名称 | 一种对具有平行线特征的目标空间姿态测量方法 | 申请号 | CN201810108270.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108444449A | 公开（授权）日 | 2018.08.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学;西安中科光电精密工程有限公司 | 发明（设计）人 | 郝冲;王海;吴易明;朱帆 | 主分类号 | G01C11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C11/02(2006.01)I;G01C11/32(2006.01)I | 专利有效期 | 一种对具有平行线特征的目标空间姿态测量方法 至一种对具有平行线特征的目标空间姿态测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种对具有平行线特征的目标空间姿态测量方法，现有测量方法都必须在直线上设置合作标志点、测量步骤繁复、测量仪器复杂、设备昂贵的问题。该方法包括：1)建立测量系统；2)线激光平面方程的标定；3)求取线激光照射到被测目标表面的直线的空间方向矢量；4)求取平行线特征的目标空间指向在相机坐标系中的表述；5)通过坐标系的旋转变换求解姿态角与方位角。本发明无需在目标上设置合作标志点，可直接利用被测目标物体表面所具有的平行直线特征，无需昂贵的三维坐标测量仪器，即可得到被测目标物体在空间中的三维姿态信息，测量系统架设方便、成本低、测量步骤简单。 |
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