| 专利名称 | 一种自混合干涉的正交检波振动测量装置及方法 | 申请号 | CN201810266508.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN108225543A | 公开（授权）日 | 2018.06.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 武俊峰;舒风风;李彦呈;吴一辉 | 主分类号 | G01H9/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01H9/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种自混合干涉的正交检波振动测量装置及方法 至一种自混合干涉的正交检波振动测量装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种自混合干涉的正交检波振动测量装置及方法，可调恒流源控制单模半导体激光二极管输出入射激光，入射激光一部分被反射到第二光电二极管上，将光信号转化为电流信号被第二光电检测模块检测后反馈给采集模块；入射激光的另一部分照射到被测物表面并按原路反射回到第一光电二极管上，将光信号转化为电流信号被第一光电检测模块检测后反馈给采集模块。与传统的自混合测量装置相比，本申请的自混合干涉的正交检波振动测量装置能获得正交的自混合信号，并完成振动信号的反正切解调，简化了系统的信号的解调难度，具有更高的位移分辨率，提高了系统的振动信号的解调精度，并能实现实时、在线测量。 |
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