| 专利名称 | 一种用于测量射频波特性的高频磁探针诊断系统 | 申请号 | CN201710889252.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107896412A | 公开（授权）日 | 2018.04.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 刘鲁南;赵燕平;张新军;秦成明;毛玉周;袁帅;王健华 | 主分类号 | H05H1/00(2006.01)I | IPC主分类号 | H05H1/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于测量射频波特性的高频磁探针诊断系统 至一种用于测量射频波特性的高频磁探针诊断系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种用于测量射频波特性的高频磁探针诊断系统，测量系统包括真空同轴电极、高频磁探针、功分器、检波器、鉴相器、信号采集系统，真空同轴电极用于将射频信号从托卡马克内传输到托卡马克外部；高频磁探针用来耦合射频信号；功分器将电压探针和电流探针信号等幅值，等相位分配为两路；检波器检测电压探针和电流探针射频信号的峰峰值，结果以直流信号输出；鉴相器检测电压探针和电流探针信号之间相位差，结果以直流信号输出。信号采集系统将采集的电压信号存属到计算机上。 |
1、源头对接，价格透明
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