| 专利名称 | 超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201710786650.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107727249A | 公开（授权）日 | 2018.02.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 吴分翔;许毅;冷雨欣 | 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量装置和测量方法 至超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量装置和测量方法，装置包括：沿待测超强超短激光脉冲入射方向依次放置的凹面镜、凸面镜、柱面镜、第一反射镜、延迟线、第二反射镜、二阶自相关仪和示波器。待测超强超短激光脉冲首先被由凹面镜和凸面镜组成的缩束系统缩束，缩束后的光束再被柱面镜在竖直方向上一维聚焦，聚焦光束分别通过第一反射镜、延迟线、第二反射镜，最后垂直射入二阶自相关仪，然后通过调节延迟线的高精度平移台使得聚焦光束的一维焦线正好落于二阶自相关仪的倍频晶体上，最后通过示波器获得待测脉冲的远场脉宽。本发明首次实现了高峰值功率激光系统输出超强超短激光脉冲远场脉宽的单发直接测量，具有调节方便、灵活高效和实用性强的特点。 |
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