| 专利名称 | 一种利用嵌入式处理器数字端口测量电阻的方法及电路 | 申请号 | CN201710686249.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107656140A | 公开（授权）日 | 2018.02.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 发明（设计）人 | 杨永友;王自力;底青云;陈文轩;张文秀;孙云涛;郑健;洪林峰;谢棋军 | 主分类号 | G01R27/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R27/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种利用嵌入式处理器数字端口测量电阻的方法及电路 至一种利用嵌入式处理器数字端口测量电阻的方法及电路 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明一种利用嵌入式处理器数字端口测量电阻的方法及电路，具体步骤：先通过参考电阻R0给参考电容C1充放电，使用定时器分别测量充电和放电时间，进而求得充放电时间平均值TR0；然后通过Rx给C1充放电，使用定时器分别测量充电和放电时间，进而求得充放电时间平均值TRx，根据参考电阻R0和计算得到的TR0和TRx代入以下公式，求出测试电阻的阻值Rx,公式如下：Rx=R0*TRx/TR0。该方法既测量给电容充电过程的时间常数，也测量电容放电过程的时间常数，从而降低极化效应，提高测量精度和可靠性。此外，还增加参考电阻，使得可以实时测量电容数值，降低因为电容参数不一致、老化导致数值变化等带来的误差。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障