| 专利名称 | 晶须单光子探测器件 | 申请号 | CN201710678394.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107507883A | 公开（授权）日 | 2017.12.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所;浙江赋同科技有限公司 | 发明（设计）人 | 尤立星;李浩;王镇 | 主分类号 | H01L31/09(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L31/09(2006.01)I;H01L31/0232(2014.01)I;H01L31/0216(2014.01)I;G01J11/00(2006.01)I;B82Y30/00(2011.01)I | 专利有效期 | 晶须单光子探测器件 至晶须单光子探测器件 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种晶须单光子探测器件，所述晶须单光子探测器件包括：衬底；功能结构层，所述功能结构层位于所述衬底表面；所述功能结构层至少包括一层晶须。本发明的晶须单光子探测器件使用晶须替代现有超导纳米线单光子探测器件中的超导纳米线，本发明的晶须单光子探测器件即具有现有超导纳米线单光子探测器件的一切功能，同时，晶须具有很好的柔性，具有较高的临界电流密度，且在弯曲和外场强下其临界电流密度不会明显变化，大大提高了晶须单光子探测器件的实用性。 |
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